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      功率半導體參數測試儀具有這些優勢,是你需要的嗎
    3. 發布日期:2021-04-20      瀏覽次數:240
      •   功率半導體參數測試儀是一種集多種測量和分析功能于一體的測試儀器,可準確執行電流-電壓(IV)和電容測量(CV(電容-電壓)、C-f(電容-頻率)以及 C–t(電容-時間)測量),并快速、輕松地對測量結果進行分析,完成半導體參數測試。
          集成直流測試,脈沖測試,瞬態測試,電容測試和低頻噪聲測試于單臺儀器中,無需換線和重新探針即可完成全部低頻參數化表征。相比傳統半導體參數測試系統其測試速度可高達10倍,在強大速度提升的同時仍保持測試精度。
          采用模塊化架構,在保持緊湊機身的同時又可依照需求擴展,并且支持多通道并行測試,輕松應對高密度生產測試。擁有直觀的用戶圖形界面,僅需點擊幾下鼠標就可以完成強大的測試分析功能,同時可以支持多種探針臺和矩陣開關等設備,輕松完成晶圓級數據的自動測試任務,更針對半導體制造提供了完善的解決方案。
          特別對二維材料器件,光電探測器的測試應用,1/f噪聲作為器件的本征重要參數之一,1/f噪聲性能制約著器件的實際應用能力,1/f噪聲廣泛地存在于各種組分和結構的半導體器件中,同時又反映材料和器件的許多潛在缺點,因此1/f噪聲的測量和分析成為評估半導體器件質量表征和可靠性的一種新手段。
          功率半導體參數測試儀適用于要操作各種設備和技術的生產和實驗室環境,可為表征任務提供更高的性能、更強的可用性以及更高的效率。因此適用于從探索分析到自動測試的各種測量環境。
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