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      分立器件測試儀的旋鈕介紹
    3. 發布日期:2021-08-12      瀏覽次數:123
      •   分立器件測試儀專為測試大功率半導體分立器件而設計,由計算機操控,具有十分豐富的編程軟件和強大的測試能力,能夠真實準確測試半導體器件以及相關器件組成的組合器件、器件陣列,測試數據可存儲打印。除具有點測試功能外,還具有曲線掃描功能。系統軟件功能全、使用靈活方便、操作簡單。系統軟件穩定可靠、硬件故障率低。
          分立器件測試儀的旋鈕介紹:
          1.“功耗限制電阻”旋鈕
          “功耗限制電阻”相當于晶體管放大器中的集電極電阻,它串聯在被測晶體管的集電極與集電極掃描電壓源之間,用來調節流過晶體管的電流,從而限制被測管的功耗。測試功率管時,一般選該電阻值為1kΩ。
          2.“基極階梯信號”旋鈕
          此旋鈕給基極加上周期性變化的電流信號。每兩級階梯信號之間的差值大小由“階梯選擇毫安/級”來選擇。為方便起見,一般選10μA。每個周期中階梯信號的階梯數由“級族”來選擇,階梯信號每簇的級數,實際上就是在圖示儀上所能顯示的輸出特性曲線的根數。階梯信號每級的毫安值的大小,就反映了圖示儀上所顯示的輸出特性曲線的疏密程度。
          分立器件測試儀廣泛應用于半導體分立器件封裝測試,制造企業的半導體器件分立來料檢驗,半導體失效分析實驗,高等院校和研究所教學科研等。
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