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      功率半導體參數測試儀

      產品時間:2019-01-11

      簡要描述:

      功率半導體參數測試儀被測器件引腿接觸自動判斷功能,遇到器件接觸不良時系統自動停止測試,確保被測器件不受損壞

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      功率半導體參數測試儀系統特征:

      ● 測試范圍廣(19大類,27分類)
      ● 采用脈沖測試法,脈沖寬度為美軍標規定的300uS
      ● 真正的動態跨導測試。(主流的直流方法測動態跨導,其結果與器件實際值偏差很大)
      ● 系統故障在線判斷修復能力,便于應急處理排除故障

       

      功率半導體參數測試儀基礎配置:

      技術參數

      ENJ2005-B型

      主極電流

      100nA-50A

      擴展電流

      100A、500A、1000A、1300A

      電壓分辨率

      1mV

      電流分辨率

      1nA(可擴展至10pA)

      測試精度

      0.2%+2LSB

      測試速度

      0.5mS/參數

      分立器件測試儀測試參數:

      漏電參數:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、     IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
      擊穿參數:BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、
                      BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
      增益參數:hFE、CTR、gFS、
      導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、
                      IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEON、VO    (Regulator)、IIN(Regulator)
      混合參數:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
      關斷參數:VGSOFF      
      觸發參數:IGT、VGT
      保持參數:IH、IH+、IH-
      鎖定參數:IL、IL+、IL-

      產品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優勢,將廣泛應用于IDM廠商、器件設計、制造、封裝廠商及高校研究所等;

      深圳華科智源科技有限公司-,功率器件測試方案供應商,2025中國制造 • 芯片設計及封裝 • 新能源及軌道交通 • 來料選型。

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